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斯派克新一代LAB火花直讀光譜儀
- 更新時(shí)間：2021-04-29
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斯派克新一代LAB火花直讀光譜儀新一代LAB火花直讀光譜儀集元素分析的偉大創(chuàng)新于一身。穩(wěn)定性，靈活性和全面功能融為- -體。雙檢測(cè)器或全CCD光學(xué)系統(tǒng)配置為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了全新標(biāo)準(zhǔn)。第三代全譜檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)為金屬I業(yè)提供了杰出的光學(xué)分析性能。雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)無(wú)懈可擊地滿足了個(gè)性化科研實(shí)驗(yàn)室對(duì)靈活性,穩(wěn)定性和高精度的嚴(yán)格要求。
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 臺(tái)式 |
|---|---|---|---|
| 激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 檢測(cè)器類 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,汽車及零部件 |
- 新一代LAB火花直讀光譜儀集元素分析的偉大創(chuàng)新于一身。穩(wěn)定性，靈活性和全面功能融為- -體。雙檢測(cè)器或全CCD光學(xué)系統(tǒng)配置為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了全新標(biāo)準(zhǔn)。第三代全譜檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)為金屬I業(yè)提供了杰出的光學(xué)分析性能。雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)無(wú)懈可擊地滿足了個(gè)性化科研實(shí)驗(yàn)室對(duì)靈活性,穩(wěn)定性和高精度的嚴(yán)格要求。LAB尤其適于檢測(cè)新材料，痕量元素，夾雜物，高純金屬以及貴金屬。LAB根據(jù)用戶要求量身定制，十種標(biāo)準(zhǔn)基體:鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅,可以與五種貴金屬基體:金、銀、鉑、鈀、釕組合配置。CCD光學(xué)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)120-780nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)所有元素的全譜記錄。PMT光學(xué)系統(tǒng)中可放置108個(gè)高性能通道，每通道配有微積分器( TRS 功能)和單火花評(píng)估(SSE功能)。
優(yōu)良的元素靈活性——涵蓋15種基體、68種方法、65種元素和210種譜線（不計(jì)參考譜線）；
不需改變硬件即可快速增加元素和方法（SPECTROLAB CCD版）
? 僅需一份樣本的簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)化——根據(jù)斯派克´的智能校準(zhǔn)邏輯（iCAL）——平均每日節(jié)省30分鐘（SPECTROLAB CCD版）
? 出色的易用性，操作輕松——簡(jiǎn)化的操作界面通過專用工具欄按鈕提供清晰的選項(xiàng)
1、兩種配置:雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)全CCD光學(xué)系統(tǒng)：
SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學(xué)系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計(jì)。雙檢測(cè)器模塊實(shí)現(xiàn)了“混合動(dòng)力”優(yōu)勢(shì)模擬電子技術(shù)的檢測(cè)器光電倍增管( PMT )和數(shù)字技術(shù)電荷耦合檢測(cè)器( CCD) 呈現(xiàn)準(zhǔn)確度多元素測(cè)量。適合于科研檢測(cè)新材料,痕量元素,雜物，高純金屬以及貴金屬.
全CCD模塊實(shí)現(xiàn)了快速,準(zhǔn)確,非常靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體,多元素分析的應(yīng)用。為爐前過程控制和成品質(zhì)星控制和成品質(zhì)星控制提分析結(jié)果。
2、非常靈活的元素選擇：
摒棄了以往耗時(shí),昂貴的硬件通道擴(kuò)展方式。大多數(shù)SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無(wú)需增加硬件設(shè)置?？蛇x的軟件擴(kuò)展設(shè)置使得用戶甚至可以不用準(zhǔn)備標(biāo)樣制作工作曲線。
3、非常高的靈敏度
一 利益于動(dòng)態(tài)背景校正等新技術(shù),檢測(cè)限達(dá)到新水平。SPECTROL AB可以準(zhǔn)確測(cè)定百分之- ( PPM )水平的痕元素含量。
4、高速測(cè)量：
SPECTROLAB的設(shè)計(jì)是以抓住每一一個(gè)機(jī)會(huì)來(lái)滿足 金屬分析對(duì)速度的需求。例如,高能等離子發(fā)生器光源配合*的動(dòng)態(tài)預(yù)然控制，實(shí)現(xiàn)縮短優(yōu)質(zhì)試樣分析時(shí)間。因而,瞬間切換到激發(fā)測(cè)星階段。增加單位時(shí)間樣品測(cè)試數(shù)量。在許多應(yīng)用中都可以實(shí)現(xiàn)非常短的分析時(shí)間
